CM-4简易探针台

CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠；

CS-4小型探针台

CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。

CL-6系列中端探针台

CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

CH-8-D 双面探针台

CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

CH-8系列综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CH-12 综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CT-6高低温探针台

最大可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜

CGO-高低温真空探针台

温度范围77K-675K(液氮)； 可应用于真空及常规环境； 超高温度分辨率； 特殊客制低温系统； 具有极高稳定性

CSA-8半自动探针台

CSA-8自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试， 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。

0.5um精度探针座

适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的定位器