EasyZoom超景深数码显微镜

得益于自主研发的先进光学系统，MoticEasyZoom系列超景深数码显微镜可轻松拍出高质 量图像。 强大的多功能物镜，高精度的数码技术结合HDR图像处理技术创造出一个非常优化的观察 系统。通过消除过强的反射光线，只需一键便可以让超高精细的照片呈现在用户面前。

全自动晶圆探针台

适应4~12寸晶圆测可提供高低温、高电压、低漏电等不同测试环境配置 设备简单易用、性能稳定，具备高度、高效率、低振动和低噪声

CP300半自动探针台

CP300系列|300mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试， 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。

CRX-SM低温超导真空探针台

温度范围8K-300K； 应用领域包括：IV/CV/微波/光电实验测试/超导垂直磁场测量/低温测试； 允许非监督降温：不需要用户一直监视就可以降温冷却； 研究者可通过它来执行霍尔测量和磁输运测量;

CRX-闭循环低温探针台

温度范围4.5K-350K； 应用领域包括：IV/CV/微波/光电实验测试/超导垂直磁场测量/低温测试； 允许非监督降温：不需要用户一直监视就可以降温冷却； CRX低温探针台无需制冷剂，样品台最低温度可到4.5K；

CM-4简易探针台

CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠；

CS-4小型探针台

CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。

CL-6系列中端探针台

CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

CH-8-D 双面探针台

CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

CH-8系列综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等