浅析高温测试测量探针台系统 小编今天带大家了解的是关于高温测试测量探针台系统的特点与技术参数 高温测试测量探针台系统主要特点有以下几点： 1、最大可用于12英寸以内样品测试 2、4/6/8/12英寸均可升高温探针台 3、同轴丝杠传动结构，线性移动 4、可满足500度高温测试，温度稳定性高 5、兼容IV/CV/RF测试 6、结构设计简单合理，操作方便 7、可根据不同需求定制 高温测试测量探针台系统主要技术参数如下： 型号与尺寸： 四个不同的型号分别为：CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/CH-12-HT； 每个型号对应不同的样品台尺寸，样品台尺寸：4英寸、6英寸、8英寸和12英寸，用于放置不同的样品。 机械系统： 水平旋转：设备可以360度旋转，并且可以微调15度，精度达到0.1度，还带有一个角度锁

探针台：解锁半导体测试领域的无限可能 在当今数字化时代，半导体产业的发展日新月异，探针台作为其中的关键设备，正逐渐受到越来越多的关注。本文将详细介绍探针台的定义、功能、应用领域以及未来发展趋势，帮助您解锁半导体测试领域的无限可能。 一、探针台的定义与功能 探针台（ProbeStation）是一种用于测试半导体器件性能的设备，它通过探针与晶圆上的电路进行接触，实现信号的输入与输出，从而对半导体器件进行电气特性测试。探针台的主要功能包括： 1.提供稳定的测试环境：探针台能够提供恒温、恒湿、低尘、无振动的测试环境，确保半导体器件在测试过程中的稳定性。 2.接触测试：探针台通过探针与晶圆上的电路接触，实现信号的输入与输出，对半导体器件进行电气特性测试。 3.数据采集与分析：探针台可以实时采集测试数据，并对数据进行分析处理，帮助工程师快速了解半导体器件的性能。

什么是射频探针？射频探针的特点和应用领域 射频探针是一种用于测量射频信号的测试工具，通常由针尖和探针本体组成。它能够与被测物接触，测量其射频信号的参数，例如频率、幅度、相位等。 射频探针的特点主要包括： 高精度测量：射频探针具有高精度的测量能力，能够准确测量射频信号的参数。 快速响应：射频探针的响应速度很快，可以在很短的时间内完成测量。 稳定性好：射频探针的测量稳定性很好，不易受到外界干扰的影响。 应用广泛：射频探针可以用于各种不同的领域，例如无线通信、雷达、电子对抗等。 应用领域方面，射频探针主要用于测试和测量各种电子设备和系统的射频信号。例如，在无线通信领域，射频探针可以用于测试手机、基站、无线路由器等设备的射频性能。在雷达领域，射频探针可以用于测试雷达天线的发射和接收性能。此外，在电子对抗系统、卫星通信、高速数字信号处理等领域，射频探针也有广泛的应用。

森东宝科技带你了解高低温真空探针台详细参数 型号为CGO-2和CGO-4。这两款设备的主要技术参数包括腔体尺寸、样品台尺寸、观察窗口尺寸、真空度、探针臂接口、其他接口（电信接口、真空接口、光纤接口、冷源接口）、制冷方式、控制方式、温度范围、温控分辨率、稳定性等。 腔体和样品台：CGO-2和CGO-4分别具有2英寸和4英寸的样品台尺寸，并采用弹簧压片方式固定样品。 观察窗口：观察窗口尺寸分别为2英寸和4英寸，用于观察样品。 真空度：这两款设备的真空度均可达到10-6torr，确保测试环境的高纯净度。 探针臂接口：最多可连接6个探针臂接口，满足多种测试需求。 其他接口：设备提供了电信接口、真空接口、光纤接口和冷源接口，增强了设备的通用性和灵活性。 制冷方式与温度范围：采用液氮或

CS-4和CS-6探针台的技术参数比较如下： CS-4探针台： ·Chuck尺寸：4英寸 ·水平旋转：可360度旋转，可微调15度，精度0.1度，带角度锁死装置 ·XY移动行程：4英寸*4英寸 ·X-Y移动精度：10um ·样品台Z轴调节：可升降8mm ·样品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附环 ·针座平台：U型针座平台，最多可放置6个探针座 ·背电极测试：样品台电学独立悬空，4mm插孔可接背电极 ·显微镜类型：单筒显微镜/体式显微镜 ·放大倍率：16X-100X ·移动行程：水平方向绕立柱360度旋转，Z轴50.8mm ·光源：外置LED无极调节亮度环形光源 ·CCD：200万像素/500万像素/1200万像素