探针台
CP300半自动探针台

CP300系列 |300mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试,

操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。

与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。

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CP300系列 |300mm半自动探针台

主要技术参数

可测片型:3 寸 4寸、5寸,6寸、8寸、12寸

测试硅片单元尺寸:20—300 mil

X-Y轴采用先进的直线电机驱动,行程:350mm*400mm,

X-Y轴移动分辨率:0.1μm,

X-Y轴重定位精度:≤±1μm,

X-Y移动速度:≥80mm/sec
Z轴采用高精度4导轨结构,有效保证负载和垂直度,行程:20mm,

Z轴移动分辨率:0.1um,

Z轴重定位精度:≤±1μm,

Z轴移动速度:≥20mm/sec

Theta轴采用高精度DD马达,角度行程:±10°,Theta角度分辨率:0.00018°

误测率:≤ 1 ‰

全自动对位时间:≤ 15 s

测试速度 45 mil   5.0 pcs/s

50 mil   4.6 pcs/s

87 mil   4.2 pcs/s

步进分辨率:0.001

Z向行程:05mm 可调

承片台转角θ调节范围:±20o


8英寸半自动探针台


卡盘平台参数规格:

卡盘 XY

行程范围

≥360 x 420mm

分辨率

0.1 μm

定位精度

≤±2.0μm

重复精度

≤±1.0 μm

XY级驱动器

闭环高精度步进电机

最高移动速度

≥70mm/s

卡盘 Z轴

行程范围

≥20mm

分辨率

0.1μm

定位精度

±2.0 μm

重复精度

±1.0 μm

Z级驱动

闭环高精度步进电机

最高移动速度

≥20mm/s

*速度是瞬时速度,而不是平均速度。移动时有加速和减速时间。

卡盘 旋转轴

行程范围

≥15°

分辨率

0.0001°

定位精度

≤±2.0μm (300 mm卡盘的边缘测量)

重复精度

≤±1.0μm

Theta级驱动

闭环高精度步进电机


显微镜平台参数规格:

显微镜XY轴

XY行程范围

50x50mm

分辨率

1μm

定位精度

≤±5.0μm

重复精度

≤±2.0μm

显微镜Z轴

XY行程范围

120mm

分辨率

0.1μm

定位精度

≤±2.0μm

重复精度

≤±1.0μm


探针台台面板:

材料

镀镍钢

台面板尺寸

880*940mm

探针座安装定位

磁吸座/真空吸座

多探针座布局

12个直流探针座或4个直流+ 4个射频探针座布局

高低温热膨胀处理

隔热系统与气流对流方式


腔体屏蔽性能

屏蔽类型

卡盘周围完全黑暗

屏蔽方式

法拉第笼

EMI屏蔽

30 dB 0.5-20 GHz

频谱本底噪声

≤ -180 dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz)

系统交流噪声

5 mVp-p (≤ 1 GHz)

光衰减

≥130dB


显微镜系统

连续变倍范围

0.58X-7.5X连续变倍

CCD

500万像素分辨率1920*1200帧率40fps

物镜

1X2X5X10X

放大倍率

140X-1818X5X物镜)


XY手轮:

手轮分辨率

1000线

作用

方便的调节下针位置


晶圆加载

加载方式

手动加载

拉出范围

≥80%

拉出盒锁定方式

气缸锁紧

PIN

可选

门锁

运动时无法打开


卡盘:

尺寸

≥300mm(可选200mm卡盘)

温度

-60-300℃-60-300℃,常温,常温-200/300℃可选)

类型

同轴/三轴/大功率

晶圆固定方式

真空吸附

吸附范围

04896192mm/ 多孔吸附(适用薄片)

接线方式

BNC/三轴开尔文接线

平面度

≤10um@25℃(补偿后)


升降温时间(12寸)

升温时间

-60℃-25℃

≤10min

25℃-200℃

≤25min

200℃-300℃

≤25min

降温时间

25℃- -60℃

≤50min

200℃-25℃

≤20min

300-25℃

≤25min



软件解决方案:

Auto align

自动水平调整

Wafer map

自动生成map

Auto XYZ

视觉补偿,适应切片后不等间距测试

Bin

对产品等级进行区分

打点

Wafer上标记坏点

Focus

显微镜自动聚焦在最清晰画面

测试软件

对测试机与探针台进行互联测试,保存测试结果等



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