可测片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸、12寸
测试硅片单元尺寸:20—300 mil
X-Y轴采用先进的直线电机驱动,行程:350mm*400mm,
X-Y轴移动分辨率:0.1μm,
X-Y轴重定位精度:≤±1μm,
X-Y移动速度:≥80mm/sec
Z轴采用高精度4导轨结构,有效保证负载和垂直度,行程:20mm,
Z轴移动分辨率:0.1um,
Z轴重定位精度:≤±1μm,
Z轴移动速度:≥20mm/sec
Theta轴采用高精度DD马达,角度行程:±10°,Theta角度分辨率:0.00018°
误测率:≤ 1 ‰
全自动对位时间:≤ 15 s
测试速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步进分辨率:0.001
Z向行程:0~5mm 可调
承片台转角θ调节范围:±20o
◆卡盘平台参数规格:
卡盘 XY轴
行程范围
≥360 x 420mm
分辨率
0.1 μm
定位精度
≤±2.0μm
重复精度
≤±1.0 μm
XY级驱动器
闭环高精度步进电机
最高移动速度
≥70mm/s
行程范围
≥20mm
分辨率
0.1μm
定位精度
≤±2.0 μm
重复精度
≤±1.0 μm
Z级驱动
闭环高精度步进电机
最高移动速度
≥20mm/s
*速度是瞬时速度,而不是平均速度。移动时有加速和减速时间。
卡盘 旋转轴
行程范围
≥15°
分辨率
0.0001°
定位精度
≤±2.0μm (在300 mm卡盘的边缘测量)
重复精度
≤±1.0μm
Theta级驱动
闭环高精度步进电机
◆显微镜平台参数规格:
显微镜XY轴
XY行程范围
50x50mm
分辨率
1μm
定位精度
≤±5.0μm
重复精度
≤±2.0μm
XY行程范围
120mm
分辨率
0.1μm
定位精度
≤±2.0μm
重复精度
≤±1.0μm
◆探针台台面板:
材料
镀镍钢
台面板尺寸
880*940mm
探针座安装定位
磁吸座/真空吸座
多探针座布局
12个直流探针座或4个直流+ 4个射频探针座布局
高低温热膨胀处理
隔热系统与气流对流方式
◆腔体屏蔽性能
屏蔽类型
卡盘周围完全黑暗
屏蔽方式
法拉第笼
EMI屏蔽
≥ 30 dB 0.5-20 GHz
频谱本底噪声
≤ -180 dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz)
系统交流噪声
≤ 5 mVp-p (≤ 1 GHz)
光衰减
≥130dB
◆显微镜系统
连续变倍范围
0.58X-7.5X连续变倍
CCD
500万像素分辨率1920*1200帧率40fps
物镜
1X,2X,5X,10X
放大倍率
140X-1818X(5X物镜)
◆XY手轮:
手轮分辨率
1000线
作用
方便的调节下针位置
加载方式
手动加载
拉出范围
≥80%
拉出盒锁定方式
气缸锁紧
顶PIN
可选
门锁
运动时无法打开
◆卡盘:
尺寸
≥300mm(可选200mm卡盘)
温度
-60-300℃(-60-300℃,常温,常温-200/300℃可选)
类型
同轴/三轴/大功率
晶圆固定方式
真空吸附
吸附范围
0、48、96、192mm/ 多孔吸附(适用薄片)
接线方式
BNC/三轴开尔文接线
平面度
≤10um@25℃(补偿后)
◆升降温时间(12寸)
升温时间
≤10min
25℃-200℃
≤25min
200℃-300℃
≤25min
降温时间
25℃- -60℃
≤50min
200℃-25℃
≤20min
300-25℃
≤25min
◆软件解决方案:
Auto align
自动水平调整
Wafer map
自动生成map图
Auto XYZ
视觉补偿,适应切片后不等间距测试
Bin值
对产品等级进行区分
打点
Wafer上标记坏点
Focus
显微镜自动聚焦在最清晰画面
测试软件
对测试机与探针台进行互联测试,保存测试结果等
=
卡盘 Z轴
显微镜Z轴
◆晶圆加载