探针台
CH-12 综合性分析探针台测试系统



最大可用于12英寸以内样品测试;

操作便捷,功能其全,高效精准


可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等


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CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统


特点/应用



最大可用于12英寸以内样品测试


◆ 同轴丝杠传动结构,线性移动


◆ 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计


◆ 针座平台快速、微调升降功能


◆ 可搭配多种类型显微镜


晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等


◆ 结构模块化设计,可无缝升级


◆ 探针台可根据客户要求定制。






台体规格:

型号

CH-8/CH-12

样品台尺寸

8英寸/12英寸

水平旋转

可360度旋转,可微调15度,精度0.1度,带角度锁死装置

X-Y移动行程

8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移动精度

10微米/1微米

样品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附环

针座平台

U型针座平台,最多可放置10个探针座

平台升降

可快速升降6mm/可微调升降25mm

背电极测试

样品台电学独立悬空,4mm插孔可接背电极

外形尺寸

840mm长*600mm宽*700mm高/950mm长*700mm宽*700mm高

重量

约100千克/150千克


光学系统:

显微镜类型

单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移动行程

X-Y轴行程2英寸*2英寸/水平360度旋转,Z轴行程50.8mm

光源

外置LED环形光源/同轴光源

CCD

200万像素/500万像素/1200万像素


定位器:

X-Y-Z移动行程

12mm*12mm*12mm

移动精度

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式

磁力吸附/真空吸附

线缆

同轴线/三轴线

漏电精度

10pA/100fA/10fA

固定探针

弹簧固定/管状固定

接头类型

BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子

针尖直径

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

针尖材质

钨钢/铍铜


可选附件

加热台

显示器

转接头

射频测试配件

屏蔽箱

光学平台

镀金卡盘

光电测试配件

高压测试配件

显微镜快速倾仰装置

激光系统

探针卡夹具

规格及设计如有更改,恕不另行通知。




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