CM-4简易探针台

CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠；

CS-4小型探针台

CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。

CL-6系列中端探针台

CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

CH-8-D 双面探针台

CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

CH-8系列综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CH-12 综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CT-6高低温探针台

最大可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜

CGO-高低温真空探针台

温度范围77K-675K(液氮)； 可应用于真空及常规环境； 超高温度分辨率； 特殊客制低温系统； 具有极高稳定性

PCB自动测试系统

BG-401A曝光机 技术协议 非常感谢您选购我们的BG-401A曝光机，我们将竭诚为您提供服务! 此协议为 合同的销售技术协议。 BG-401A曝光机主要用于中小规模集成电路和半导体元器件制造工艺中的对准 及曝光。本产品操作方便、稳定性高、重复性好，并具有较高的性能价格比，可广 泛应用于科研和生产。