探针的分类说明

关于电学量测使用的探外地，一般分为以下几大类，为您做详细的说明

一、概述：      
测试针，是用于测试PCBA的一种探针，主要做为电学信号的输入。 
表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。 
探针的材质：W，ReW, A+ 
1.目前主要采用的材质为W，ReW, 弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。 
2. A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

二、探针分类
探针根据电子测试用途可分为：
A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针； 
B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；  
C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针；

三、探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。 
悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type） 
垂直探针：垂直型（Vertical Type） 

1.ICT探针 （ICT series Probes) 
一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试．也是目前应用较多的一种探针． 

2.界面探针(Interface Probes) 
非标准的探针
3.微型探针（MicroSeries Probes) 
两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm． 
4.开关探针（Switch Probes) 
开关探针单独一支探针有两路电流． 
5.高频探针（Coaxial Probes) 
用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的． 
6.旋转探针（Rotator Probes) 
弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试． 
7.高电流探针（High Current Probes) 
探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps. 
8.半导体探针 (Semiconductor Probes) 
直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic 
9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts) 
一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长