吉时利2400

吉时利2400数字源表

普赛斯 S300

S系列数字源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数宇触摸的率先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最小电流分辨率10pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

FS-Pro半导体参数测试仪

√一体化测试 √超快速 √模块化架构 √操作便捷 √独具特色的1/f噪声测试能力

美国newwave激光器

QuikLaze50ST2 QuikLaze50ST2isatooldesignedspecificallyforquick,easyremovalofavarietyofmaterials.Multiple,user-selectablewavelengthsprovidethecapabilitytoselectivelyremovecertainmaterialswhile

日本HOYA激光器

LaserSystemsHSL-4000IISeries/HSL-5000IISeries

激光开盖系统，激光开封机

*使用激光烧蚀技术 *可开异形形状无需治具 *高重复性 *一致性设计 *无需使用酸开封 *激光安全等级高

气体放电与等离子体诊断仪

SSV-40型气体放电与等离子体诊断仪由东北大学真空与流体工程研究所教授团队研究开发，面向全国各高校。 整套设备包括朗缪尔探针、气体放电管、测量系统、真空系统、进气系统等部分组成。 朗缪尔探针、工作电压、工作气压、气体流量等部分均可独立控制并且自由调节。

压电马达，纳米级位移台

压电马达驱动的位移台特点： 1、长行程，理论上无行程限制 2、超高精度，可迖10纳米 3、无回程间隙，具内秉刹车功能 4、无磁，无油，无电磁干扰，真空兼容 5、快速，速度迖300毫米/秒 6、超薄设计，结构紧凑

EMMI测试系统

EMMI光子微漏电定位分析系统设备是集成电路失效分析中的重要分析工具，漏电定位对于失效分析者而言是必备工具。在集成电路行业中，对集成电路可靠性要求很高。芯片在工作中，微漏电现象较为普遍，微弱漏电在极端情况下往往会无限放大，造成芯片甚至整个控制系统失效，所以芯片微漏电现象是对于集成电路失效分析中极端重要的一环。 针对宽禁带半导体（如GaN与SiC）器件失效分析，森东宝科技有限公司推

三轴公转三轴母转接头

美国Emerson原装进口三轴母转同轴公转接头/连接器