全自动晶圆探针台

适应4~12寸晶圆测可提供高低温、高电压、低漏电等不同测试环境配置 设备简单易用、性能稳定，具备高度、高效率、低振动和低噪声

CP300半自动探针台

CP300系列|300mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试， 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。

CP200半自动探针台

CP200系列|200mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。