CM-4简易探针台

CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠；

CS-4小型探针台

CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。

CL-6系列中端探针台

CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

CH-8-D 双面探针台

CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。