Keithley 2400

PRECISE INSTRUMENT

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FS-Pro Semiconductor Parameter Tester

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Newwave laser

Japan HOYA laser

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EMMI测试系统

EMMI光子微漏电定位分析系统设备是集成电路失效分析中的重要分析工具，漏电定位对于失效分析者而言是必备工具。在集成电路行业中，对集成电路可靠性要求很高。芯片在工作中，微漏电现象较为普遍，微弱漏电在极端情况下往往会无限放大，造成芯片甚至整个控制系统失效，所以芯片微漏电现象是对于集成电路失效分析中极端重要的一环。 针对宽禁带半导体（如GaN与SiC）器件失效分析，森东宝科技有限公司推

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